ZW SERIE SOLDADURA DIODOAREN IKUSKATZEA ETA PAKETEA
Proba-metodoak eta ikuskapen-arauak
1. Lotez lote ikuskatzea (A taldeko ikuskapena)
Produktu sorta bakoitza 1. taularen arabera ikuskatu behar da, eta 1. taulako elementu guztiak ez dira suntsitzaileak.
1. taula Lote bakoitzeko ikuskapena
| Taldea | IkuskapenaElementua | Ikuskapen-metodoa | Irizpidea | AQL (Ⅱ) |
| A1 | Itxura | Ikusizko ikuskapena (argiztapen eta ikusmen baldintza normaletan) | Logotipoa argia da, gainazaleko estaldurak eta xaflak ez dira zuritu eta kaltetu. | 1.5 |
| A2a | Ezaugarri elektrikoak | 4.1 (25 ℃), 4.4.3 (25 ℃) JB/T 7624—1994 | Polaritatea alderantzikatua:VFM> 10USL IRRM> 100USL | 0,65 |
| A2b | VFM | 4.1 (25 ℃) JB/T 7624—1994 | Baldintzei buruzko kexa | 1.0 |
| IRRM | 4.4.3 (25 ℃, 170 ℃) JB/T 7624—1994-n | Baldintzei buruzko kexa | ||
| Oharra: USL gehienezko muga-balioa da. | ||||
2. Aldizkako ikuskapena (B taldeko eta C taldeko ikuskapena)
2. taularen arabera, ekoizpen arruntean amaitutako produktuak B eta C taldeko lote bat gutxienez ikuskatu behar dira urtero, eta (D) markako ikuskapen-elementuak proba suntsitzaileak dira.Hasierako ikuskapena kalifikatua ez bada, laginketa osagarria berriro ikus daiteke A.2 eranskineko taularen arabera, baina behin bakarrik.
2. taula Aldizkako ikuskapena (B taldea)
| Taldea | IkuskapenaElementua | Ikuskapen-metodoa | Irizpidea | Laginketa Plana | |
| n | Ac | ||||
| B5 | Tenperatura-zikloa (D) eta ondoren zigilatzea |
| Proba ondoren neurketa:VFM≤1,1USL IRRM≤2USL ez ihesak | 6 | 1 |
| CRRL | Eman laburki talde bakoitzaren ezaugarri garrantzitsuak, VFM eta biokRRMprobaren aurretik eta ondoren balioak, eta probaren ondorioa. | ||||
3. Identifikazio-ikuskapena (D taldeko ikuskapena)
Produktua amaitzen denean eta ekoizpenaren balorazioan jartzen denean, A, B, C taldeko ikuskapenez gain, D taldeko proba ere egin behar da 3. taularen arabera, eta (D) markako ikuskapen-elementuak proba suntsitzaileak dira.Amaitutako produktuen ekoizpen normala hiru urtean behin D taldeko lote bat gutxienez probatu beharko da.
Hasierako ikuskapenak huts egiten badu, laginketa osagarria berriro ikus daiteke A.2 eranskineko taularen arabera, baina behin bakarrik.
3. taula Identifikazio proba
| No | Taldea | IkuskapenaElementua | Ikuskapen-metodoa | Irizpidea | Laginketa Plana | |
| n | Ac | |||||
| 1 | D2 | Ziklo termikoko karga-proba | Ziklo-denborak: 5000 | Proba ondoren neurketa:VFM≤1,1USL IRRM≤2USL | 6 | 1 |
| 2 | D3 | Talka edo bibrazioa | 100g: eutsi 6 ms, erdi-seinu uhin forma, elkarren arteko 3 ardatz perpendikularren bi norabide, 3 aldiz norabide bakoitzean, guztira 18 aldiz.20g: 100~2000Hz, norabide bakoitzeko 2h, guztira 6h. | Proba ondoren neurketa: VFM≤1,1USL IRRM≤2USL | 6 | 1 |
| CRRL | Eman laburki talde bakoitzaren atributu garrantzitsuak, VFM , IRRMeta biokDRMprobaren aurretik eta ondoren balioak, eta probaren ondorioa. | |||||
Markatzea eta ontziratzea
1. Markatu
1.1 Produktuan marka barne
1.1.1 Produktuaren zenbakia
1.1.2 Terminalaren identifikazio-marka
1.1.3 Enpresaren izena edo marka komertziala
1.1.4 Ikuskapen-lotearen identifikazio-kodea
1.2 Logotipoa kartoian edo erantsitako argibideetan
1.2.1 Produktu-eredua eta zenbaki estandarra
1.2.2 Enpresaren izena eta logotipoa
1.2.3 Hezetasuna eta euriaren aurkako seinaleak
1.3 Paketea
Produktuen ontziratzeko eskakizunak etxeko araudiak edo bezeroen eskakizunak bete behar ditu
1.4 Produktuaren dokumentua
Produktu-eredua, ezarpen-zenbaki estandarra, errendimendu elektriko-baldintza bereziak, itxura, etab. adierazi behar dira dokumentuan.
Thesoldadura-diodoaJiangsu Yangjie Runau Semiconductor-ek ekoitzitako erresistentzia-soldatzailean, maiztasun ertain eta altuko soldadura-makinetan aplikatzen da 2000 Hz edo goragoraino.Aurrerako gailur tentsio baxua, erresistentzia termiko ultra baxua, artearen fabrikazio teknologia, ordezkapen gaitasun bikaina eta mundu mailako erabiltzaileentzako errendimendu egonkorrarekin, Jiangsu Yangjie Runau Semiconductor-en soldadura diodoa Txinako potentziako gailu fidagarrienetakoa da. produktu erdieroaleak.